產(chǎn)品中心PRODUCTS CENTER
在發(fā)展中求生存，不斷完善，以良好信譽和科學的管理促進企業(yè)迅速發(fā)展
首頁-產(chǎn)品中心-粗糙度測量儀-Compact WIL白光干涉微光形貌粗糙度儀
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION技術文章
TECHNICAL ARTICLES
瑞士丹青進口白光干涉微觀形貌粗糙度儀 瑞士丹青Compact WLI白光干涉微觀形貌及粗糙度儀是用于記錄3D形貌光學測量技術，其分辨率高達納米級。測量點平行采集和處理，大面積的高度信息可以在很短時間內(nèi)采集。研究和質(zhì)量管理過程中的典型應用有：物體表面的不同粗糙度特性（晶圓結(jié)構(gòu)、鏡面、玻璃、金屬等）、確定高度變化以及曲面的精密測量（如微透鏡等）。
更新日期：2024-04-24
型號：Compact WIL
訪問次數(shù)：1258
Copyright©2026 德瑞華測量技術（蘇州）有限公司 版權所有 備案號：蘇ICP備20016265號-5 sitemap.xml 技術支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸
